Zygo NewView 9000 3D 光学轮廓仪技术
基础信息与型号区分
1. 核心型号
NewView 9000 系统提供两种基础配置,核心差异在于是否包含隔振组件:
型号(ZYGO P/N) 配置说明 适用场景
6311-0100-01 含隔振系统(isolation) 振动敏感环境(如实验室多设备区域、精密制造车间)
6311-0100-11 不含隔振系统(w/o isolation) 已配备外部隔振平台的场景(如专用光学实验室)
2. 测量技术原理
采用3D 相干扫描干涉技术(Coherence Scanning Interferometry) ,结合 Zygo 专利的SureScan™技术与相移干涉技术(Phase Shifting Interferometry) ,实现非接触式表面高度数据采集:
优势:兼顾 “大扫描范围” 与 “高垂直分辨率”,可测量透明 / 不透明、光滑 / 粗糙等多种表面,无需样品预处理。
核心硬件配置
NewView 9000 的硬件围绕 “高精度光学成像 + 灵活运动控制” 设计,关键组件参数如下:
1. 光学系统
(1)物镜与变焦组件
组件 具体参数 特点
物镜 放大倍率:1.0X–100X;
类型:标准工作距离、长工作距离(可选);
适配性:需参考 “Nexview & NewView 9000 系列物镜图表” 覆盖从 “大视场低倍” 到 “小视场高倍” 需求,长工作距离物镜适配厚样品 / 复杂夹具
物镜安装方式 可选 3 种:
1. 单物镜燕尾槽(Single objective dovetail);
2. 手动编码 4 位转台(Manual Encoded 4-position turret);
3. 电动 4 位转台(Motorized 4-position turret) 电动转台支持自动化物镜切换,适配批量样品测量;手动转台成本更低,适合固定场景
光学变焦 标配:电动 3 位编码变焦转台(含 1.0X 变焦管);
可选:0.5X、0.75X、1.5X、2.0X 变焦组件 变焦与物镜配合扩展视场范围,编码设计确保变焦位置重复性
(2)视场与照明
视场范围(Field of View):0.04×0.04mm(高倍物镜 + 高变焦)~17.49×17.49mm(低倍物镜 + 低变焦),支持视场拼接(Integrated field stitching) ,可测量超视场大尺寸样品;
照明系统:白光 LED 光源,配备手动视场光阑(field stop)、孔径光阑(aperture stop)与光谱滤光片,可调节照明强度与光谱范围,适配不同反射率样品。
(3)图像采集
测量阵列(像素):4 种可选 ——1600×1200(高分辨率)、1000×1000、1000×600、1000×200(高速采集);
样品观察:Mx 软件内置集成视窗(Integrated view window),实时显示样品图像,辅助对焦与区域定位。
2. 运动控制系统
(1)Z 轴驱动(聚焦与扫描)
组件 参数 功能
精密压电驱动(Piezo drive) 垂直扫描范围:150μm;
控制方式:闭环电容规(Closed loop capacitance gauge);
安全设计:含碰撞保护(crash protection) 用于高精度垂直扫描,获取表面高度数据,电容规确保扫描精度
Z 轴聚焦台(Z-Drive Stage) 行程:100mm;
分辨率:0.1μm;
聚焦方式:电动手动 / 自动聚焦(带通镜聚焦辅助) 用于样品粗对焦与大高度范围调整,自动聚焦功能提升操作效率
(2)样品载物台
提供 “手动” 与 “电动” 两种配置,满足不同自动化需求:
载物台类型 XY 轴行程 倾斜范围(Tilt) 额外功能
手动载物台 100mm ±3° 基础定位,成本低
电动载物台 150mm ±3° 支持自动化多位置测量,可选 “编码 XYZ” 配置(提升定位重复性)
3. 系统控制与软件
控制计算机:i7 处理器,1080P 显示器;
操作系统:Microsoft Windows 10(64 位);
软件:ZYGO Mx v7.2.0 及以上版本,支持数据采集、3D/2D 可视化、粗糙度分析(如 Sq、Ra)、台阶高度计算等功能。
关键性能指标(实验室条件下)
性能参数基于 ISO 标准(25178-601、25178-604、5436-1),采用标准样品验证,核心指标如下:
性能类别 具体参数 备注
垂直扫描范围 150μm(压电驱动);20mm(Z 轴扩展扫描) 扩展扫描适配大台阶高度样品(如 20mm 厚样品)
表面形貌重复性(1) 0.08nm SmartPSI 模式、1 秒采集、全视场 + 3×3 中值滤波
RMS 粗糙度(Sq)重复性(2) 0.008nm 即 “垂直分辨率”,同上述测量条件,反映表面细节测量精度
光学横向分辨率(3) 0.34μm(100X 物镜) 基于斯派罗准则(Sparrow criterion),物镜倍率越高,横向分辨率越高
数据扫描速度(4) 171μm / 秒(1000×200 阵列) 速度随 “测量阵列大小”“采集模式” 变化,小阵列适配高速测量
台阶高度重复性(5) 0.1%(1σ) 用 1.8μm、24μm Zygo 认证台阶标准件验证
台阶高度精度(6) 0.3% 仅含仪器贡献的不确定度,基于压电驱动测量
样品适配范围
NewView 9000 支持多种类型样品,适配参数覆盖 “材质、尺寸、表面特性” 等关键维度:
样品特性 适配参数 说明
材质 不透明(金属、硅片)、透明(玻璃、聚合物)、镀膜 / 未镀膜、光滑 / 粗糙表面 白光 LED 与滤光片适配低反射率样品(最低 0.05% 反射率)
样品高度 最大 89mm;可通过 “镜头支架 / 龙门 risers” 扩展 需注意物镜工作距离,避免样品与物镜碰撞
表面斜率 光滑表面:最大 55°(100X 物镜);
散射表面:最大 85° 高斜率样品需选择合适物镜,避免数据缺失
样品质量 最大 3.5kg 保护载物台运动精度,过重样品需定制承载组件
环境要求
为确保测量精度,需满足以下环境条件,核心控制 “温度、振动、声学” 干扰:
环境类别 要求 目的
温度 15–30°C;温度变化率 < 1.0°C/15 分钟 避免材料热变形影响光学系统与样品
湿度 5%–95% 相对湿度,无冷凝 防止光学元件结露、金属部件锈蚀
振动隔离 标配隔振系统(型号 6311-0100-01);
振动范围:1Hz–120Hz;
振动标准:需满足 VC-C 级及以上 振动会导致干涉条纹模糊,影响高度数据精度
声学环境 NC30 级及以上(噪声≤30 分贝) 避免声波振动传递至设备,干扰精密运动组件
核心备注与适用场景
规格时效性:技术参数可能未经通知变更,实际配置需以 Zygo 官方最新文档为准;
适用场景:
科研领域:MEMS 器件表面粗糙度、微结构台阶高度、生物材料表面形貌分析;
工业领域:半导体晶圆平整度、光学元件面形误差、精密模具表面质量检测;
校准要求:需定期用 Zygo 认证标准件(如台阶高度标准件、参考平面)校准,确保性能指标稳定。
