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GE VMIVME-2536 32 通道光耦合数字 I/O 板
时间: 2025-08-15浏览次数：
GE VMIVME-2536 32 通道光耦合数字 I/O 板
GE VMIVME-2536 32 通道光耦合数字 I/O 板
基本信息
产品名称：VMIVME-2536 32 通道光耦合数字 I/O 板（带内置测试功能）
生产公司：GE Fanuc Automation（嵌入式系统部门）
核心功能：包含 32 个光耦合输入和 32 个光耦合输出，输入和输出均具备内置测试（BIT）能力，对 VME 背板提供持续 1kV 的系统隔离
主要特点
32 个光耦合输出和 32 个光耦合输入
高隔离潜力：持续 1kV，脉冲 35kV
支持 8 位、16 位、32 位数据传输
支持 A24 标准数据或 A16 短 I/O 寻址
输入可进行电压感应或接触感应
输入电压范围为 5 至 125VDC
输出灌电流达 300mA，最大输出电压 50V
支持输入和输出的内置测试
订购选项
A（输入电压范围）：0=5V、1=12V、2=24-28V、3=48V、4=125V（仅电压感应）、5 = 预留
B：0（预留用于未来选项）
C（CE 合规性）：0 = 非 CE 合规、1=CE 合规
DEF：0（预留用于未来选项）
功能特性
1. 合规性
符合 VMEbus 规范 ANSI/IEEE STD 1014-1987、IEC 821 和 297
支持的地址修改器：3D、39/2D、29
支持 A24/A16 寻址，数据传输支持 D32/D16/D08 (EO)
2. 内置测试（BIT）
输入测试：通过在控制和状态寄存器（CSR）中设置位将输入置于测试模式，此时通过输入端口读取的是板载测试寄存器中的数据而非现场数据，测试寄存器与输入数据端口地址相同，支持在线和离线测试
输出测试：输出数据寄存器的内容可随时读取以支持在线测试；通过在 CSR 中设置位可将输出置于离线测试模式，此时集电极开路输出全部禁用，可对输出寄存器写入和读取数据模式进行测试而不影响输出
上电 / 复位状态：板处于测试模式，输出数据寄存器应在上线前初始化以避免不确定状态
3. 寻址方案与地址映射
寻址组织：以 8 位端口组织，包含 4 个输入端口和 4 个输出端口，位于板 ID 和 CS 寄存器上方的一个长字边界，占用 16 字节地址空间
地址映射：
$00：BD ID（板 ID）
$02：控制和状态寄存器（CSR）
$04-$07：输入数据寄存器 0-3
$08-$0B：输出数据寄存器 0-3
$0C-$0F：预留
输入特性
输入配置：可设置为电压感应或接触感应（按字节边界设置）；接触感应需安装用户提供的 SIP 电阻；按字节边界通过跳线选择外部电压或内部 VME +5V 为接触感应模式供电（VME +5V 仅适用于 5V 输入选项）
输入电压选项：5V、12V、24V、28V、48V、125V（具体参数见表 1-5）
输入隔离：最小 10MΩ
隔离电压：现场到 VME 持续 1000V，1 秒 3500V；通道间最大持续 500V
接触去抖：用户可编程去抖，去抖时间为 0、0.256、0.512、1.024、2.048、4.096、8.192、16.384ms，复位时默认去抖为 0
输出特性
输出配置：光隔离、集电极开路；用户可按字节边界安装上拉电阻；按字节边界通过跳线选择外部电压或内部 VME +5V 为上拉电阻供电
输出漏电流：在 VCE=50V、TA=60°C 时最大 500uA
最大输出电压：50V
开关时间：见表 6
输出隔离：最小 10MΩ
隔离电压：现场到 VME 持续 1000V，1 秒 3500V；通道间最大持续 500V（注：用户提供的电阻可能限制隔离）
物理 / 环境规格
尺寸：6U（4HP）单槽 Eurocard 外形
高度：9.2 英寸（233.4mm）
深度：6.3 英寸（160mm）
厚度：0.8 英寸（20.3mm）
用户连接器：两个 64 针 DIN 连接器（一个用于输入，一个用于输出）
温度：工作温度 0 至 + 60°C；存储温度 - 55 至 + 85°C
湿度：20% 至 80%，无凝结
电源要求：+5VDC，2.65A
平均无故障时间（MTBF）：463,909 小时
法规认证：
欧盟（CE 标志）：符合 EN55024、EN55022 辐射发射 A 级等标准
美国：FCC Part 15，A 级
加拿大：ICES-003，A 级
