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​NI 779072-01 PCI-6259 M 系列多功能 DAQ 采集卡


 
产品详情


NI 779072-01 PCI-6259 M 系列多功能 DAQ 采集卡
产品概述
NI 779072-01 是 NI PCI-6259 多功能 DAQ 数据采集卡,属于经典 M 系列高速采集硬件,PCI 总线接口,集成模拟输入、模拟输出、数字 I/O、计数器定时器一体化功能,广泛用于台式 PC 测控系统搭建,是实验室、小型自动化测试台最常用的多功能采集卡型号。该卡搭载 NI-MCal 自校准技术,支持多档可编程输入量程,硬件定时采集通道,依托 NI-DAQmx 驱动和 LabVIEW 开发环境,可快速搭建电压信号采集、信号输出、编码器测量、开关量联动程序。PCI-6259 兼顾通道数量、采样速率与成本,适合不需要 PXI 机箱、直接安装在工控机 PCI 插槽内的测控方案,存量工控设备、实验室测试台维修替换需求很高,在工控备件流通市场保有量大,兼容性稳定,配套 SCB-68、CB-68LP 端子板完成信号接线。
规格参数

总线类型:PCI;模拟输入:32 路单端 / 16 路差分,16 位分辨率;采样速率:最高 1.25MS/s 单通道,多通道扫描 1MS/s;模拟输出:4 路,16 位,更新速率 2.8MS/s;数字 I/O:48 路 TTL 电平,其中 32 路支持硬件定时 10MHz;计数器:2 路 32 位 80MHz 计数器;输入量程:±100mV、±500mV、±1V、±5V、±10V 多档可选;触发:模拟触发、数字触发;校准:NI-MCal 板载自校准;连接器:68 针 D-SUB;工作温度:0~55℃;驱动:NI-DAQmx;供电:PCI 插槽供电。


性能特点

第一,一体化多功能架构,一块板卡同时集成 AI、AO、DIO、计数器,单卡即可完成信号采集、激励输出、编码器测速、开关量控制,减少机箱内板卡数量,简化系统。

第二,1.25MS/s 高速同步采集,多通道扫描模式下自动通道切换,时序精度高,支持硬件触发,适合瞬态信号捕捉、脉冲信号采集。

第三,NI-MCal 板载自校准,上电或软件指令触发内部校准,降低温漂带来测量误差,长期使用精度稳定性更好,延长外部校准周期。

第四,48 路数字通道,32 路支持硬件定时,最高 10MHz,可输出高速数字波形或者采集同步数字信号,搭配模拟信号做时序联动测试。

第五,两路 80MHz 硬件计数器,支持正交编码器、脉冲频率、占空比测量,直接接入增量式编码器,无需额外计数模块。

第六,标准 68 针接口,配套成熟端子板,端子板集成滤波、接线端子,方便传感器、执行器接线,降低布线难度。

第七,PCI 总线 DMA 传输,高速数据流直接写入内存,CPU 占用低,长时间连续采集不容易丢点。

工作原理
PCI-6259 通过 PCI 总线和工控机主板通信,上电后 NI-DAQmx 驱动识别硬件,加载板载校准参数。模拟输入信号经过前端可编程增益放大器,根据设置量程放大调理,送入 16 位 ADC;硬件定时引擎控制 ADC 采样时序,采样数据存入板载 FIFO 缓存,通过 DMA 通道批量上传计算机内存。模拟输出通道接收主机下发波形数据,送入 DAC 转换成连续模拟电压信号,支持硬件定时波形输出,实现任意激励信号生成。数字 I/O 分为软件定时和硬件定时两组,硬件定时通道由内部时基控制,独立于 CPU 时序,输出 / 采集数字波形;计数器模块对外部脉冲或者编码器 A/B 相脉冲做硬件计数,锁存计数值,主机定时读取计数值计算转速、位置。所有触发、同步信号由板卡内部触发路由引擎管理,支持 AI、AO、DIO、计数器之间互相触发联动,实现多类型信号严格时序同步。
注意事项

1、板卡为 PCI 接口,现代工控机大多取消 PCI 插槽,采购前确认主机插槽资源,PCIe 转 PCI 转接卡存在兼容性风险,优先原生 PCI 主板。2、差分测量模式抗干扰优于单端,长距离传感器布线优先差分接线;单端模式适合短距离、低噪声实验室信号。

3、模拟输入最大输入电压不能超过量程上限,超量程会损坏前端 PGA,建议前端加装信号调理保护模块。

4、数字通道 TTL 电平,不能直接接入 24V 工业开关信号,必须电平转换模块隔离降压。

5、计数器正交编码器接线需要屏蔽线缆,编码器线路远离变频器动力线,避免脉冲丢数。

6、自校准需要几分钟稳定时间,高精度测量建议程序启动时执行自校准函数。

7、68 针线缆插拔断电操作,热插拔容易损坏板卡接口芯片。

8、同一 PCI 总线多张 DAQ 卡同步,使用 RTSI 同步线缆,严格配置 RTSI 触发时钟。

应用场景
传感器静态标定测试台、小型电机转速扭矩测控、电源模块输出特性测试、实验室信号发生与采集系统、振动与压力信号监测、编码器位置采集系统、电子元器件功能 ATE 测试、教学测控实验平台。




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