欢迎浏览厦门控匠自动化科技有限公司
NI
NI PXIe-5114 双通道数字化仪
产品详情
NI PXIe-5114 双通道数字化仪
NI PXIe-5114是NI PXI Express平台中的双通道高速数字化仪，主要用于快速模拟信号的波形捕获、瞬态记录和频域分析。该模块将双通道同步采样、8位垂直分辨率、最高250 MS/s采样率以及PXI Express高速背板通信集成于单个插槽，适合电源瞬态、电子电路信号完整性、脉冲参数、超声与雷达中频信号等需要较高采样率和同步性的测试场景。与低速数据采集模块不同，PXIe-5114的核心价值在于把快速变化的模拟波形以足够的时间分辨率数字化，并通过PXIe总线把数据高速传送到控制器，供LabVIEW、NI-SCOPE或自定义程序进行触发、显示、测量和存储。
从采样架构看，PXIe-5114提供2路同步模拟输入通道，每通道具备独立的8位ADC，最高采样率250 MS/s，模拟带宽可覆盖百兆赫兹级信号。同步采样保证两路信号之间的相对相位稳定，适合观察差分信号、I/Q信号、两路相关脉冲或需要通道间时间对齐的测量。8位分辨率在高速数字化仪中属于常见配置，其优势在于采样速度快、数据吞吐高，适合捕获窄脉冲和快速边沿；对于小信号测量，应结合输入量程和外部衰减/放大，使信号尽量占满ADC动态范围，以降低量化噪声影响。模块通常提供多档输入范围和50 Ω/1 MΩ输入选择，用户应根据信号源阻抗和幅度合理配置，避免过载和反射。
在触发与采集方面，PXIe-5114支持边沿触发、电平触发、窗口触发、数字触发和外部触发等多种方式，适合捕获偶发异常、周期性波形和复杂事件序列。板载内存可用于存储较长波形，用户可在触发前后设置预触发和后触发采样，保留事件发生前后的完整信息。通过PXI Express背板，模块可与PXIe控制器、任意波形发生器、开关模块和射频模块同步，构建多仪器协同的测试系统。NI-SCOPE驱动提供波形采集、测量、频谱分析和数据导出功能，用户也可在LabVIEW中调用底层API，实现自定义触发逻辑和实时处理。
系统集成时，PXIe-5114应安装于兼容的PXI Express插槽，前端使用合适带宽的屏蔽电缆、衰减器和探头连接被测信号。高速信号布线应控制线缆长度和阻抗匹配，避免反射和驻波；测量高压或大电流信号时，应使用差分探头、隔离探头或外部衰减器，确保输入不超过模块额定范围。对于电源纹波和瞬态测试，应使用短地线连接和屏蔽措施，减少环路面积。模块可与PXIe-5114的触发总线配合，把多通道或多模块采集对齐到同一事件。
典型应用包括电源瞬态与纹波测试、电子电路信号完整性验证、脉冲宽度与上升时间测量、超声信号采集、雷达中频信号记录、传感器响应测试和科研高速数据记录。在产线测试中，该模块可用于快速波形判断和异常捕获；在实验室中，可用于信号源输出验证、放大器失真分析和通信波形观察。选型时应核对通道数、采样率、模拟带宽、输入范围、板载内存和PXIe插槽兼容性。维护阶段可通过已知信号源检查通道幅频响应、触发稳定性和噪声本底，确认输入连接器和衰减器状态。PXIe-5114适合需要双通道同步、250 MS/s采样率和PXIe高吞吐量的高速数字化系统，为快速模拟信号捕获提供紧凑的仪器模块。
