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NI PXIe-4139源测量单元
产品详情
NI PXIe-4139源测量单元
产品概述：
NI PXIe-4139是National Instruments PXI Express高精度系统源测量单元（SMU），用于半导体器件、传感器、电子元件和材料的精密电压/电流激励与测量。该模块可在PXIe机箱中提供四象限源测量能力，适合IV曲线测试、漏电流测量、电阻测试、功率器件表征和自动化测试。PXIe-4139通常具备高分辨率ADC/DAC、低噪声输出、脉冲测量和快速序列功能，可与PXIe控制器、开关模块和LabVIEW/NI-DCPower驱动配合。本次产品标注“GOOD QTY”，平台展示时应注明数量、成色、测试状态和质保。控匠自动化平台可将其作为PXIe精密SMU选型产品，配套接线盒、屏蔽电缆和驱动。用户选型应核对电压/电流范围、分辨率、精度和通道数。
规格参数：
PXIe-4139典型为单通道或双通道精密SMU（具体以官方手册为准），具备四象限电压/电流源和测量能力，高分辨率ADC/DAC，支持脉冲和序列测量；PXIe总线接口，配套NI-DCPower驱动。具体电压范围、电流范围、分辨率、精度、最大功率、采样率和连接器定义以NI官方手册及实物标签为准。用户应核对被测件的电压/电流需求和负载特性。若用于低电流测量，应关注屏蔽、接地和漏电；若用于功率器件，应关注脉冲能力和散热。上架时应注明附件和校准状态。
性能特点：
PXIe-4139的优势是高精度源测量与PXIe平台集成。四象限能力可输出和吸收功率，适合电池、二极管和晶体管测试；高分辨率适合微小电流和电压测量；脉冲和序列功能提高测试效率；PXIe总线便于多模块同步和自动化；NI-DCPower提供配置式任务和编程API。用户应关注输出噪声、建立时间和量程切换，确保测量精度。模块适合半导体和精密电子测试。
工作原理：
模块通过DAC设定输出电压或电流，功率级驱动被测件；ADC测量实际电压/电流并反馈，形成闭环；用户通过NI-DCPower配置源模式、量程、限值和序列，软件读取IV数据。脉冲模式可减少器件发热。多模块可同步用于多端子器件测试。
注意事项：
确认被测件电压/电流和功率不超过模块能力；低电流测量使用屏蔽电缆和 Guard 连接；避免输出短路和过载；感性/容性负载评估稳定性；插拔模块前关闭机箱电源；预热后测量以提高精度；定期校准；自动化测试设置安全限值和急停；GOOD QTY产品应确认数量和测试状态。
应用场景：
适用于半导体器件IV测试、传感器表征、电阻和漏电流测量、功率器件测试、材料研究和自动化精密测试。对于需要PXIe高精度SMU的用户，PXIe-4139是常用选择。控匠自动化可提供接线盒、电缆和驱动配套咨询，价格库存数量以询价和实物确认为准。
