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NI PXIe-6570数字图案仪器
产品详情
NI PXIe-6570数字图案仪器
产品概述
NI PXIe-6570是2槽PXI Express数字图案仪器，提供100 MVector/s数字图案激励与采集能力，适合半导体器件测试、数字电路验证、协议测试、板级互连测试和自动化生产测试。该仪器可产生高速数字向量并采集响应，配合PXIe机箱、源测量单元和开关系统构建高吞吐量数字测试平台。控匠自动化平台可协助核对通道配置、电平标准和测试软件兼容性。
规格参数
总线：PXI Express。
槽位：2槽。
向量速率：最高100 MVector/s。
通道：多通道数字图案I/O（具体通道数按配置）。
电平：支持常用数字逻辑电平（按选件/配置）。
存储：板载向量存储与序列控制。
触发：支持PXI触发、外部触发和多仪器同步。
软件：支持NI Digital Pattern Editor、LabVIEW、TestStand等。
同步：可与PXIe源测量、示波器等模块同步。
性能特点
PXIe-6570以100 MVector/s高速向量率满足数字器件和板级测试需求。2槽结构在PXIe机箱中集成多通道数字图案生成与采集，减少台式仪器堆叠。支持向量序列、循环、分支和触发，便于构建复杂测试流程。PXIe同步能力使数字向量与模拟测量协同，适合混合信号测试。软件工具支持向量编辑、调试和自动化执行。
工作原理
用户通过软件编辑数字向量和时序，下载至仪器板载存储；仪器按设定向量率产生数字激励，同时采集被测器件响应，并与期望向量比较，输出通过/失败结果。触发和同步信号协调外部仪器，实现激励—测量—判定自动化。
注意事项
需确认被测器件电平与仪器选件匹配，避免过压。高速数字线缆和探头应满足带宽与阻抗要求，保持信号完整性。多仪器同步需统一参考时钟和触发线。PXIe机箱需保证散热和供电。测试程序应设置安全初始状态和限流保护。
应用场景
适用于半导体数字器件测试、PCB互连测试、数字协议验证、存储器测试、自动化生产测试、科研数字系统验证等。对高速数字向量测试，PXIe-6570是PXIe平台的重要仪器。
