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NI PCIe-6536 25MHz 高速 PCIe 数字 I/O 接口板卡
产品详情
NI PCIe-6536 25MHz 高速 PCIe 数字 I/O 接口板卡
产品概述
NI PCIe-6536 是 NI PCI Express 总线高速数字 I/O 设备，32 路双向数字通道，最高时钟速率 25MHz，支持 2.5V、3.3V 逻辑电平，兼容 5V 信号，面向高速数字波形生成、并行数字总线仿真、芯片功能测试、数字通信时序验证开发。该板卡每个通道独立配置输入 / 输出方向，同步时序、握手异步时序两种工作模式，配套 6 路 PFI 可编程功能 IO，用于外部触发、时钟同步、标记信号，依托 NI-DAQmx 驱动，软件兼容老款 PCI-6533/6534 程序，方便老项目硬件升级。PCIe x1 总线架构，独享 PCIe 通道带宽，最高吞吐量 100MB/s，适合需要高速并行数字流、自定义数字协议仿真的 ATE 测试设备，半导体、FPGA 芯片验证、总线接口测试项目使用广泛，是高速数字测试经典型号。
规格参数
总线：PCIe x1；数据通道：32 路双向数字 IO；PFI 通道：6 路双向；最高时钟速率：25MHz；逻辑电平：2.5V、3.3V（兼容 5V）；单通道驱动：±32mA@3.3V；时序模式：同步、异步握手；上电状态：软件可编程 0/1 / 高阻；输入保护：-1V~6V；驱动：NI-DAQmx；工作温度：0~55℃；连接器：68 针。
性能特点
第一，25MHz 硬件定时数字 IO，支持连续高速数字波形流输出与采集，用于并行总线仿真、芯片激励响应测试，远超普通低速 DIO 卡。第二，32 通道每通道独立方向控制，不需要整端口统一输入输出，可灵活拆分输入组、输出组，适配非对称总线接口。第三，电平可选 2.5V/3.3V，兼容现代低电压 FPGA、SOC 芯片 IO 电平，向下兼容传统 5V TTL 器件，覆盖多数数字芯片测试需求。第四，PCIe x1 独享通道，带宽 100MB/s，DMA 流式传输，长时间连续波形吞吐，CPU 占用低，不容易丢数据。第五，6 路 PFI 多功能线，用作外部采样时钟、触发输入、同步标记，可和示波器、模拟采集卡同步触发，数字波形和模拟信号联合采集。第六，上电状态软件预设，支持上电高阻态，上电时不会输出不确定电平，保护被测芯片免受上电冲击。第七，软件兼容前代 PCI 6533/6534，存量测试程序少量修改即可迁移到 PCIe-6536，降低项目改造成本。
工作原理
PCIe-6536 板载高速时序引擎，内部振荡器或者外部 PFI 时钟作为采样时基，时序引擎按照时钟节拍读取波形缓存数据输出，或者采样外部数字信号写入接收缓存。32 路通道方向寄存器独立配置，每一路可以单独设置输入、输出模式。输出模式：主机把数字波形序列写入板卡 FIFO，硬件按时钟节拍串行送出并行数字信号；输入模式：按时钟锁存外部并行总线电平，存入 FIFO，DMA 批量上传主机。异步握手模式支持和被测设备之间应答信号交互，适配带握手协议的并行接口。PFI 通道路由引擎可以把内部时钟、触发信号引出，或者接收外部仪器同步信号，实现整套测试系统时序对齐。上电逻辑单元默认按照软件预存配置，通道进入预设电平或者高阻，避免上电毛刺损坏 DUT。
注意事项
1、输出驱动 ±32mA，大负载需要外加缓冲驱动芯片，不可直接驱动大功率负载。2、电平配置务必和被测芯片 IO 电平一致，3.3V 模式下接入 5V 器件会损坏芯片 IO 口。3、高速 25MHz 信号布线必须使用匹配阻抗屏蔽线缆，短线连接，长线会产生信号反射、时序偏移。4、PFI 通道作为时钟输入时，信号边沿质量要好，边沿缓慢会造成采样不稳定。5、上电高阻是推荐安全配置，测试芯片前务必确认上电状态设置。6、PCIe 插槽安装注意散热，连续长时间高速流传输板卡发热明显。7、不要接入超过 6V 或者低于 - 1V 的信号，输入保护范围有限。8、时序同步多板卡方案推荐 RTSI 同步线缆同步时钟。
应用场景
FPGA、SOC 芯片并行接口功能测试、自定义数字总线仿真、存储器读写时序验证、半导体芯片 ATE 测试台、高速数字波形发生器、通信基带数字信号测试、光电探测器阵列高速读出采集。
