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Advantest D3286 误差性能测试系统的误差探测器
时间: 2024-09-11浏览次数:
Advantest D3286 误差性能测试系统的误差探测器

Advantest D3286 误差性能测试系统的误差探测器

引 言

为了适应未来多媒体时代大容量信息的传输,超高速数字电信网络正在建设之中。为了评估和分析电信系统中用于多路复用器和中继器的 O/E、E/O 模块和超高速逻辑器件,需要高速、高质量的信号源。D3186 脉冲图形发生器/D3286 误差检测器可在 150 M bps 至 12.5 Gbps 的工作频率范围内提供高速、高质量和多种误差检测功能的出色信号。此外,D3186/D3286 还具有 8 M 位大容量存储器和 ADVANTEST 独特的帧模式生成功能,是新一代误码性能测试系统,可兼容 SDH/SONET 中的 STM -1 (155.52 M bps) 至 STM -64 (9.95 Gbps)。

D3286 错误检测器

适用于系统评估的 SDH/SONET 帧同步 

具有区域规格的误码检测,适用于 SDH 帧和 ATM 单元测量 

突发数据测量,适用于回环测试 

自动搜索功能可调整最合适的定时和电压 

监控数据和时钟输出 

用于存储测量结果和设置数据的 FD 驱动器 

图形用户界面(GUI)环境,实现简单易懂的操作环境

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提供卓越的波形质量

用于光学元件的性能评估

高波形质量对于评估激光二极管和光通信用光学元件的性能至关重要。为满足这一要求,D3186 脉冲图形发生器可提供高速、高质量的卓越波形。此外,D3186 输出波形的交叉点可变范围大,便于控制输出波形的修正标记比。

用作光学模拟器的模拟信号源

与 ADVANTEST 的 Q7606A/B 光波调制测试装置配合使用时,D3186 可为光调制器的啁啾测量系统提供合适的调制信号源。

卓越的波形质量

通过输出波形重定时,实现了极佳的眼平衡、低抖动和低失真数据输出波形。

通过 50 欧姆输出阻抗实现最佳匹配

通过 50 欧姆输出阻抗匹配,即使连接了不匹配的 DUT,也不会出现因阻抗不匹配而导致的波形失真。

生成接近实际数据的 SDH/SONET 帧模式

用于评估光传输设备、E/O 和 O/E 模块

在 SDH/SONET 系统的 O/E 和 E/O 测试中,需要进行帧级测试。除了 8 M 位长度的大型 WORD 存储器外,D3186 脉冲模式发生器还提供了一个可选功能,即在 STM 帧的帧头部分插入 WORD 模式,在有效载荷部分插入任意 PRBS,从而实现与实际数据非常接近的测试模式。当然,D3286 误差检测器可以分别测量报头和有效载荷部分的误差。此外,D3286 还具有帧同步功能和特定区域误差测量功能,可有效支持误差原因定位。



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